+7(495) 374-78-03
г.Москва, ул.Миклухо-Маклая, дом 42б, офис 3, 12
email: kontur@kontur-gr.ru
Карта проезда
Contact Us Contact Us
Главная » Новости мира полиграфов » 2-я Московская научно-практическая конференция полиграфологов

2-я Московская научно-практическая конференция полиграфологов

7-8 декабря 2012г. в Москве состоялась 2-я научно-практическая конференция полиграфологов.
Первый день проходил в здании АИФ на Мясницкой. В президиуме собрались самые именитые полиграфологи, производители полиграфов и руководители школ полиграфологов.  Конференция началась с того, что все члены президиума были отмечены знаками отличия за выдающийся вклад в развитие и становление полиграфологии в России. Вручались грамоты, медали, значки, статуэтки.

Далее шел доклад Поповичева С.В. о корректности использования классических американских методик российскими полиграфологами. Суть доклада заключалась в том, что если уж использовать выработанные, устоявшиеся методики, то это нужно делать правильно, а не трактовать их на свой взгляд и вкус. Не раз упоминалось о том, что последнее время появились такие «курсы полиграфологов», которые предлагают «обучить» по специальности за 1-2 недели, либо вообще заочно, что абсолютно недопустимо и бросает тень на специальность в целом. Далее завязалась полемика о необходимости применения единых стандартов к процессу обучения специалистов, сертификации школ и о сертификации уже действующих специалистов. В итоге, остановились на том, что в настоящее время существует лишь добровольная сертификация специалистов-полиграфологов, и желающий ее пройти должен сдать экзамен группе независимых экспертов, в состав которой входят именитые полиграфологи.
В этот день на конференции присутствовали репортеры канала «Москва 24», которые сняли репортаж о конференции. Репортаж в скором времени можно будет увидеть на нашем сайте, а пока можно с ним ознакомиться по следующей ссылке: http://www.m24.ru/videos/7361.
Второй день проходил в здании МИДПО РАНХиГС. Параллельно проводилось несколько секций, первая секция была посвящена полиграфу, борьбе с коррупцией и методикам ПФИ, где произошла презентация новой методики ПФР Молчанова А.Ю., на второй секции психолог Цагарелли Ю.А. рассказывал об аспектах системной диагностики личности и проводил презентацию своего прибора, третья секция во главе с М. Фон Миллер была посвящена американским методам и международным стандартам.
В целом, конференция прошла успешно, было представлено много информации, есть о чем размышлять. Отдельная благодарность организаторам конференции за их труд и усердие в организации и проведении подобного мероприятия.

28 Январь 2014